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檢測開關使用中可能出現(xiàn)的故障
 
錄入時間:2017-05-08 10:43:37瀏覽次數(shù):1
 

1. 使用初期的故障

以光電開關、接近開關等為主體的檢測開關,半導體一般會在使用初期發(fā)生故障。

其原因是使用在回路中的半導體,在制造中受到種種應力而導致在使用開始后的短期內(nèi)發(fā)生破損;另外,功率比半導體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時間,根據(jù)制造方法的不同而不同,不能一概而論,一般多發(fā)生在使用開始后的一星期到10天內(nèi)。

2. 偶發(fā)故障

包括由于半導體部件的不良而引起的故障,電阻、電容的斷線、短路、容量不足,電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象,但發(fā)生率極低。接近開關經(jīng)常發(fā)生故障時,可以考慮為使用環(huán)境的問題,可向碩方詢問相關。

 

 

3. 負荷短路與配線錯誤

由于配線錯誤或帶電作業(yè)引起負荷短路時,導致大電流流向檢測開關,輸出回路燒毀。作為在檢測開關外進行的保護對策,可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法,通過熔斷器進行保護,不僅可保護負荷短路,還對地線有保護作用。但是,由于開關內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小,達不到100[%]的效果。

4. 干擾波導致的破損

由干擾波帶來的破損是慢慢形成的,因此在開始使用后的一個月或二三個月后發(fā)生破損是極其普通的。因此,在該期間發(fā)生破損時,其原因則可判斷為干擾波。電感負載開閉時發(fā)生的檢測開關的瞬間錯誤動作是由干擾波造成的。

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