超聲波無(wú)損探傷是目前應(yīng)用相當(dāng)廣泛的無(wú)損探傷手段，此類傳感器和光電開(kāi)關(guān)傳感器是完全不同的。常用的有以下幾種類型：
A型超聲波無(wú)損探傷：
A型超聲波無(wú)損探傷是利用超聲波在傳播過(guò)程中遇到其他介質(zhì)會(huì)反射的特性進(jìn)行探傷的，其結(jié)果以二維坐標(biāo)注表示，橫軸對(duì)應(yīng)時(shí)間，縱軸對(duì)應(yīng)反射波強(qiáng)度，可以從二維坐標(biāo)注中直接分析出缺陷的深度和大概尺寸。
B型超聲波無(wú)損探傷：
B型超聲波無(wú)損探傷的原理和醫(yī)學(xué)上的B超類似，探頭的橫坐標(biāo)注對(duì)應(yīng)掃描距離，縱坐標(biāo)注對(duì)應(yīng)探傷嘗試，屏幕的輝度亮度反映反射波的強(qiáng)度。其掃描過(guò)程是利用計(jì)算機(jī)控制發(fā)射晶片陳列來(lái)完成與機(jī)械移動(dòng)探頭相似的掃描動(dòng)作，具有掃描速度快、定位準(zhǔn)確的特點(diǎn)。
C型超聲波無(wú)損探傷：
C型超聲波無(wú)損探傷的工作原理和醫(yī)學(xué)上的CT掃描類似，其掃描過(guò)程是采用計(jì)算機(jī)控制探頭中的三維晶片陳列，使探頭在材料的縱探方向進(jìn)行掃描，掃描結(jié)果可以繪制出材料內(nèi)部缺陷的橫截面圖。 |
當(dāng)前位置：
